EU Binding Tariff Information
 HS Code : | 9012.10 | |
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 CN Code : | 9012.10.••.•• | |
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BTI Reference :
Issuing Country : GERMANY
Date Of Issue : 16.Jan.2017 - 15.Jan.2020
System for atomic sonde tomography in the form of a functional unit, consisting of a main device, a control cabinet and an integrated control, evaluation and monitoring station with PC. The individual components are connected via cables. The main device has a vacuum system with pumps, a sample chamber, a high-voltage generator, a laser and a detector. This system is an advancement of the field ion microscope and enables three-dimensional imaging of local material composition at atomic resolution.
Description auto translated : System for atomic tomography in the form of a functional unit consisting essentially of a main unit, a control cabinet and an integrated control, evaluation and monitoring station with a PC. The individual components are connected by cable. The main unit has a vacuum system with pumps, a sample chamber, a high-voltage generator, a laser, and a detector (see figure in the appendix). The system is a further development of the field ion microscope and allows the three-dimensional imaging of the local composition of materials in atomic resolution. For this purpose, individual atoms are released from the sample by means of high-voltage pulses and lasers, which are detected by the detector according to space and time. This allows the original position of the atoms in the sample to be reconstructed. The device is used in scientific material analysis. The goods are treated as "other than optical microscope, not electron microscope, with devices specially designed for the handling and transport of semiconductor wafers or reticles".
Original Description: System für die Atomsondentomographie in Form einer funktionellen Einheit, im Wesentlichen bestehend aus einem Hauptgerät, einem Steuerschrank und einer integrierten Steuer-, Auswerte- und Überwachungsstation mit PC. Die Einzelkomponenten sind über Kabel verbunden. Das Hauptgerät verfügt über ein Vakuumsystem mit Pumpen, eine Probenkammer, einen Hochspannungsgenerator, einen Laser, sowie einen Detektor (siehe Abbildung in der Anlage).Das System ist eine Weiterentwicklung des Feldionenmikroskops und ermöglicht die dreidimensionale Abbildung der lokalen Zusammensetzung von Materialien in atomarer Auflösung. Hierzu werden mit Hilfe von Hochspannungsimpulsen und Laser einzelne Atome aus der Probe gelöst, welche durch den Detektor nach Raum und Zeit detektiert werden. Dadurch kann die ursprüngliche Position der Atome in der Probe rekonstruiert werden. Das Gerät wird in der wissenschaftlichen Materialanalyse eingesetzt.Die Ware wird als "anderes als optisches Mikroskop, kein Elektronenmikroskop, mit Vorrichtungen versehen, die ihrer Beschaffenheit nach zum Handhaben und Transportieren von Halbleiterscheiben (wafers) oder Reticles besonders bestimmt sind" eingereiht.
Source : EU Binding Tariff Information
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