EU Binding Tariff Information
 HS Code : | 9027.81 | |
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 CN Code : | 9027.81.••.•• | |
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BTI Reference :
Issuing Country : GERMANY
Date Of Issue : 09.Jun.2023 - 08.Jun.2026
Secondary ion mass spectrometer consisting of ultrahigh vacuum chambers with pumps and measurement tubes, vacuum manipulator for sample positioning, video cameras for observing the sample, primary ion sources to excite secondary ion emission, primary ion sources for layer-by-layer removal of the sample, electron source for charge compensation, time-of-flight mass spectrometer for analyzing the mass of secondary ions, detectors for detecting generated secondary ions and electrons, and an integrated control cabinet with attached working place (computer) for power electronics
Description auto translated : So-called secondary ion mass spectrometer, essentially consisting of:- Ultra-high vacuum chambers with vacuum pumps and measuring tubes- Vacuum manipulator for sample positioning- Video cameras for sample observation- Ion sources for stimulating secondary ion emission- Ion sources for layer-by-layer removal of the sample- Electron source for charge compensation- Time-of-flight mass spectrometer for mass analysis the secondary ion detectors to verify the generated secondary ions and electrons. Integrated control cabinet for the supply electronics with connected workstation (computer) The individual components are connected to each other via cables and form a functional unit. The device is used for the chemical surface and micro-area analysis of solids of the most varied properties with an achievable mass resolution of > 25. 000 and an achievable lateral resolution of the liquid metal ion source of < 50 nm. The product is classified as "Apparatus for physical or chemical analysis, not covered by subheadings (CN) 9027 1010 to 9027 5000, as a mass spectrometer"..
Original Description: So genanntes Sekundärionen-Massenspektrometer, im Wesentlichen bestehend aus:- Ultrahochvakuum-Kammern mit Vakuumpumpen und Messröhren- Vakuummanipulator zur Probenpositionierung- Video-Kameras zur Probenbeobachtung- Ionenquellen zur Anregung der Sekundärionenemission- Ionenquellen zum schichtweisen Abtrag der Probe- Elektronenquelle zur Ladungskompensation- Flugzeitmassenspektrometer zur Massenanalyse der Sekundärionen- Detektoren zum Nachweis der erzeugten Sekundärionen und –elektronen- Integrierter Schaltschrank für die Versorgungselektronik mit angeschlossenem Arbeitsplatz (Computer)Die Einzelkomponente sind über Kabel miteinander verbunden und bilden eine funktionelle Einheit. Das Gerät dient der chemischen Oberflächen- und Mikrobereichsanalyse von Festkörpern unterschiedlichster Beschaffenheit bei einer erreichbaren Massenauflösung von > 25.000 und einer erreichbaren Lateralauflösung der Flüssigmetall-Ionenquelle von < 50 nm.Die Ware wird als "Gerät für physikalische oder chemische Untersuchungen, nicht von den Unterpositionen (KN) 9027 1010 bis 9027 5000 erfasst, als Massenspektrometer" eingereiht.
Source : EU Binding Tariff Information
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