EU Binding Tariff Information
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BTI Reference :
Issuing Country : GERMANY
Date Of Issue : 09.Jun.2016 - 08.Jun.2019
System Trident EDX/WDX/EBSD-Mikroanalysesystem, as a functional unit for material analysis consisting of an electronic detector with a double-walled metal container for the reception of liquid nitrogen, a data acquisition module (analyzer), a raster generator for controlling the electron beam, a interfaces connection (EM Interface) for adjusting scan and video signals, a WDX detector (high-energy spectrometer TEXS or LEXS) and an EBSD detector in the form of a phosphor screen and a peltier-cooled CCD camera (electronic camera with semiconductor components), a specific camera interface with motorized movement system for integration into or attachment to an electron microscope, a detector control module (controller), a PC workstation with installed system and user software for signal processing and analysis, a monitor and a printer. The microanalysis system is connected to an electron microscope and examines the X-ray radiation emitted by any material sample using the EDX detector, analyzes the X-ray radiation according to its different wavelengths using the WDX detector to prove the composition of elements present in the probe, and captures the electron images reflected, bent, and falling on the phosphor screen by the CCD camera. The system components are connected to each other with electrical cables.
Description auto translated : So-called Trident EDX / WDX / EBSD microanalysis system as a functional unit for material analysis consisting of an electronic detector with a double-walled metal container for receiving liquid nitrogen, a data acquisition module (analyzer), a grid generator for controlling the electron beam, an interface connection (EM Interface ), A WDX detector (TEXS or LEXS high-energy spectrometer) and a phosphor (EBSD) in the form of a phosphor screen and a Peltier-cooled CCD camera (electronic camera with semiconductor components); a specific camera interface with motorized positioning system for installation In or. Attachment to a scanning electron microscope, a detector control module (controller), a PC workstation with installed system and user software for signal conditioning and analysis, a screen and a printer. The microanalysis system is connected to an electron microscope and, with the EDX detector, examines the X-ray radiation which is produced by irradiating any material sample by cleaving atoms. The WDX detector is used to analyze the X-ray radiation on the basis of the different wavelengths in order to detect the composition of the elements in the sample. Using the EBSD detector, the electron images that are diffracted from a material sample, diffracted, and are incident on the phosphor screen are captured by the CCD camera. After analyzing and evaluating these, they provide information about the crystal orientation of a sample near the surface. All measured values are displayed in the monitor and printed out as results from the printer. The system components are connected to each other via electrical cables. The product is called "electronic device for physical or chemical investigations, not from the UPos. (CN) 9027 1010 to 9027 8013 ". Annex: 1 illustration.
Original Description: So genanntes System Trident EDX/WDX/EBSD-Mikroanalysesystem, als funktionelle Einheit zur Materialanalyse bestehend aus einem elektronischen Detektor mit einem doppelwandigen Metallbehälter zur Aufnahme von flüssigem Stickstoff, einem Datenaquisitionsmodul (Analysator), einem Rastergenerator zur Steuerung des Elektronenstrahls, einer Schnittstellenverbindung (EM Interface) zur Anpassung von Scan- und Videosignalen, einem WDX-Detektor (Hochenergiespektrometer TEXS oder LEXS) und einem Detektor (EBSD) in Form eines Phosphorschirms und einer peltiergekühlten CCD-Kamera (elektronische Kamera mit Halbleiterbauelementen), einer spezifischen Kameraschnittstelle mit motorisiertem Verfahrsystem zum Einbau in bzw. Anbau an ein Rasterelektronenmikroskop, einem Detektor-Steuerungsmodul (Controller), einer PC-Workstation mit installierter System- und Anwendersoftware für die Signalaufbereitung und Analyse, einem Bildschirm und einem Drucker.Das Mikroanalysesystem wird an ein Elektronenmikroskop angeschlossen und untersucht mit dem EDX-Detektor die Röntgenstrahlung, die beim Bestrahlen einer beliebigen Materialprobe durch abspaltende Atome entsteht. Mit dem WDX-Detektor wird die Röntgenstrahlung anhand der unterschiedlichen Wellenlängen analysiert, um die Zusammensetzung der in der Probe befindlichen Elemente nachzuweisen.Mit dem EBSD-Detektor werden die von einer Materialprobe rückgestreuten, gebeugten und auf dem Phosphorschirm aufgetroffenen Elektronenbilder von der CCD-Kamera aufgenommen. Diese geben nach Analyse und Auswertung im System Auskunft über die oberflächennahe Kristallorientierung einer Probe. Alle Messwerte werden im Monitor angezeigt und als Ergebnisse vom Drucker ausgedruckt. Die Systemkomponenten sind miteinander über elektrische Kabel verbunden.Die Ware wird als "elektronisches Gerät für physikalische oder chemische Untersuchungen, nicht von den UPos. (KN) 9027 1010 bis 9027 8013 erfasst" eingereiht.Anlage: 1 Abbildung
Source : EU Binding Tariff Information
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